dcsimg Rasterkraftmikroskop - RÖMPP, Thieme

Rasterkraftmikroskop

Bearbeitet von: Michael HirtzAldo R. Boccaccini   

(Abkürzung AFM, von atomic force microscope). Das Rasterkraftmikroskop ist ein hochauflösendes Mikroskop (siehe Mikroskopie) zur Abbildung von Oberflächen und Messung atomarer Kräfte auf der Nanometerskala. Es wurde im Jahre 1986 von G. Binnig, C. F. Quate und C. Gerber aufbauend auf dem Tunnelmikroskop entwickelt[1] und kann im Gegensatz zu diesem auch elektrisch nicht leitende Oberflächen untersuchen.

Heutzutage ermöglicht die Rasterkraftmikroskopie…


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Letzte Aktualisierung: Juli 2017

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